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Subtema |
| MÓDULO 1 : Sensores, Transductores, acondicionado de señales, Digitalización de la señal y sistemas de medida y control. |
Clasificación de los sensores. Descripción de sensores: transductores de posición, detectores de presencia, transductores de temperatura. Otros sensores específicos. Introducción a la digitalización: accesorios. Finalidad de sensores. Elementos necesarios para adaptar a los usos. Actuadores. Características estáticas de los transductores. Características dinámicas de los transductores. Otras características. Errores en las Medidas. Errores Característicos de los transductores y sistemas de medida. Evaluación estadística de medidas y errores. Transductores modificadores. Detectores. |
| MÓDULO 2 : Sistemas de adquisición de datos .Análisis de datos experimentales. |
Introducción. Ejemplos de sistema DAQ. Sistemas de Comunicación : serie, paralelo. Prácticas : puerto serie, GPIB. Unidades de medida. El sistema internacional de unidades, SI. Incertidumbre en la medida. Evaluación de incertidumbres : tipo A, tipo B, combinadas. Expresión de las incertidumbres. Ajustes de los datos a funciones : ajuste por mínimos cuadrados, ajuste a funciones no lineales, ajuste no paramétrico (Spilines). Ejemplos con Matlab. |
MÓDULO 3 : Diseño de experimentos y análisis térmico.
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Diseño de experimentos. Análisis Térmico. Análisis termogravimétrico (TGA). Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Análisis mecánico-dinámico (DMA). Análisis dieléctrico (DEA).
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| MÓDULO 4 : Espectroscopía y microscopía electrónica |
Técnicas de análisis químico de materiales. Clasificación y comparativa. Espectroscopía de plasmas. Láser : definición y propiedades. Ablación láser : Fundamentos, plasmas, técnicas de análisis asociadas a la ablación láser.
Espectroscopía de plasmas inducidos por láser : fundamentos, dispositivo experimental, parámetros experimentales, análisis de superficies e interfaces, aplicaciones. Introducción a la microscopía: introducción a la microscopia óptica, parámetros fundamentales . Microscopía Electrónica: fundamentos de la microscopia electrónica, microscopia electrónica de barrido, microscopia electrónica de transmisión, análisis morfológico, análisis estructural, análisis químico.
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| MÓDULO 5 : Caracterización de materiales metálicos |
Caracterización química . Espectrometría de Absorción Atómica (AAS) : Fundamento, descripción de equipo y metodología de la determinación de la concentración de un elemento por absorción atómica. Determinación del carbono y azufre por Absorción Molecular : Fundamento y descripción del equipo y metodología. Análisis químico por gravimetría : Determinación del silicio en aceros y fundiciones. Técnicas electroquímicas en el estudio de la velocidad de corrosión : Componentes básicos de una celda electroquímica, fenómenos de polarización, teoría del potencial mixto, método de la resistencia de polarización lineal, polarización cíclica potenciodinámica, determinación de la resistencia a la corrosión por picaduras.
Caracterización metalográfica. Metalografía. Macroscopía. Macrografías sobre el material : obtención y desbaste, ataque macroscópico. Macrografías sobre el papel. Impresión del azufre (Impresión Baumann). Macrografías por deposición con sales cúpricas. Microscopía. Montaje y pulido. Observación de probetas en estado pulido. Ataque por inmersión. Pulido y ataque electrolítico. Observación microscópica. Microscopio metalográfico. Fotomicrografía. Análisis de imagen.
Caracterización mecánica. Dureza : Brinell, Vickers (microdureza y nanodureza), Rockwell. Tracción : Módulo de Young. Límite elástico, resistencia a tracción, alargamiento y estricción. Resiliencia : fragilización, ensayo Charpy, transición dúctil-frágil. Desgaste. Tipos de desgaste : adhesivo, abrasivo, por fretting, por cavitación, erosivo, por fatiga, corrosivo.
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| MÓDULO 6 : Ensayos de materiales de construcción : hormigón |
Introducción. Ensayos de materiales. Ensayos de resistencia a compresión por medio de probetas. Ensayos de resistencia a tracción por medio de probetas: el ensayo brasileño. Ensayos de resistencia a flexión por medio de probetas. Ensayos de estructuras. Ensayos de vigas a flexión. Ensayos de vigas a cortante.
Ensayos de piezas a compresión. Ensayos de losas a flexión. Medición de flechas : métodos. Sistemas integrados en el propio equipo de ensayo. Visión artificial. Medidores de desplazamientos. Analógicos, mecánicos. Electromecánicos, digitales. Medida de deformaciones : métodos. Galgas extensométricas. Visión artificial. Sistemas manuales. Uso de galgas extensométricas y configuración de circuitos eléctricos para medición de deformaciones.
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Asignaturas