Temas Subtemas
Tema 1.
Técnicas avanzadas de caracterización de sólidos I
 Introdución a técnicas difractométricas.
Difracción de RX, difracción de neutróns.
Tema 2.
Técnicas avanzadas de caracterización de sólidos II
 Introdución a técnicas microscópicas.
Microscopía óptica (fluorescencia e confocal), microscopías electrónicas (TEM, SEM, STEM, difracción de electróns), microscopías de proximidade (STM, AFM).
Tema 3.
Técnicas avanzadas de caracterización de sólidos III
 Introdución a técnicas espectroscópicas.
EDXS, EELS, XPS, NMR e ESR de sólidos.